原子力顯微鏡的工作原理

智達(dá)機(jī)電

原子力顯微鏡（AFM）通過(guò)一個(gè)尖銳的探針與樣品表面相互作用，利用探針的位移或振動(dòng)來(lái)獲取表面信息。探針通常固定在一個(gè)懸臂梁上，當(dāng)它接近樣品時(shí)，表面力（如范德華力、靜電力等）使探針發(fā)生彎曲或偏移。激光反射系統(tǒng)用于測(cè)量探針的位移，掃描過(guò)程中通過(guò)反饋控制保持探針與樣品之間的力恒定。AFM可以在接觸、非接觸或輕敲模式下工作，提供高分辨率的表面形貌圖像，并可測(cè)量樣品的力學(xué)、電學(xué)等特性。

馬嘍

贊同樓上，這個(gè)角度我之前沒想到。

驚喜星期二

謝謝你的建議，我會(huì)嘗試的。

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我對(duì)這個(gè)話題不太了解，但希望能多學(xué)一些。

無(wú)藥可救

這個(gè)想法很有意思，但需要更多實(shí)際操作的細(xì)節(jié)。

在下蘇無(wú)名

從你的帖子中學(xué)到了不少知識(shí)，謝謝！

檸檬樹下

贊！這個(gè)觀點(diǎn)很有見地。