電子顯微鏡下的原子

清溪咽

在電子顯微鏡下，原子呈現為點狀或亮斑，顯示其在材料中的位置。透射電子顯微鏡（TEM）可以顯示原子的排列和晶體結構，而掃描電子顯微鏡（SEM）則提供表面特征的三維圖像。樣本通常需要處理得很薄，并在真空中觀察，以獲取高分辨率圖像。這項技術對材料科學和納米技術至關重要。

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