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標題: 電感耦合等離子體光譜儀和質譜儀的區別 [打印本頁]

作者: 銳機械 時間: 2024-11-5 16:46
標題: 電感耦合等離子體光譜儀和質譜儀的區別
電感耦合等離子體光譜儀（ICP-OES或ICP-AES）和質譜儀（ICP-MS）都是用于元素分析的強大工具，但它們的工作原理、優缺點和應用領域有所不同。以下是它們的主要區別：
1. 工作原理

ICP-OES（ICP光譜儀）：
- ICP-OES通過將樣品引入高溫的電感耦合等離子體（通常是氬等離子體），激發樣品中的原子或離子，使其發射特征光譜。
- 光譜儀檢測并分析這些發射光譜的波長和強度，從而確定樣品中各元素的種類和濃度。
- 通過不同元素的特征發射光譜，能夠識別和定量樣品中的元素。
ICP-MS（ICP質譜儀）：
- ICP-MS利用ICP產生的等離子體來將樣品中的元素離子化。然后，質譜儀通過質量-電荷比（m/z）對這些離子進行分離和檢測。
- ICP-MS通過檢測離子的質量和數量，分析樣品中的元素成分及其濃度。

2. 靈敏度和檢測限

ICP-OES：
- ICP-OES的靈敏度相對較低，適合分析較高濃度的元素。通常檢測限在ppb（十億分之一）到ppm（百萬分之一）之間。
- 適合常規的元素分析，尤其是在濃度較高的樣品中。
ICP-MS：
- ICP-MS具有更高的靈敏度和更低的檢測限，能夠檢測到極低濃度的元素（可達到ppt，甚至更低）。
- 適合分析超低濃度（如痕量元素）和具有挑戰性的樣品（如復雜矩陣中微量元素）的分析。

3. 選擇性和干擾

ICP-OES：
- ICP-OES的選擇性相對較低，因為不同元素的發射譜線可能會發生重疊，尤其是在復雜樣品中，可能會出現譜線干擾。
- 通常需要通過選擇適當的譜線或波長進行校正，且樣品的基質效應可能會影響結果。
ICP-MS：
- ICP-MS具有更高的選擇性，可以通過質量分析來分離不同的元素和同位素，從而避免譜線重疊的問題。
- 但是，ICP-MS也可能受到基質效應和同位素干擾的影響，尤其是在高濃度元素存在時，需要使用專門的質譜技術進行干擾校正。

4. 應用范圍

ICP-OES：
- 主要用于測定樣品中較為常見的元素（如鈉、鈣、鋁、鐵等）的濃度，尤其適合處理含量較高的樣品。
- 適用于水質分析、礦物和冶金行業、環境檢測、食品和農業分析等領域。
ICP-MS：
- 主要用于分析微量或痕量元素，尤其適合高靈敏度、低檢測限的元素分析，如重金屬分析、同位素比值分析等。
- 常用于環境科學、地質學、醫學診斷、法醫分析、食品安全、考古學以及核廢料監測等高精度分析領域。

作者: 倚窗聽雨 時間: 2024-11-20 19:54
這個討論讓我對這個行業有了新認識。

作者: 麻薯25 時間: 2024-11-22 20:40
說得太對了，這簡直就是我的心聲。

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